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聚焦離子束與電子束顯微系統 - NFC奈米中心
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日期：2024-07-22
中文名稱 聚焦離子束與電子束顯微系統 英文名稱 Dual beam (focused ion beam & electron beam) System (FIB/SEM) 儀器廠牌型號 FEI Nova 200 購置年限 2005/ 6/30 放置地點 工六館 213室 (TEL：55368) 機台狀況 功能 1. 穿透式電子顯微鏡試片 (TEM sample ......看更多
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