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良率分析中診斷角色的改變良率分析中診斷角色的改變
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日期：2024-10-31
透過自動診斷每個製造測試故障以及擷取相關資料，可加速良率分析的進行。 測試
故障資料中包含了可加速半導體元件良率分析過程的豐富資訊。透過建置一個可擷取
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