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薄膜探針技術應用於3D IC測試 | 產業焦點 | IEK產業情報網
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日期:2025-03-31
所以目前 3D IC的製造成本 居高不下而失去競爭力。 利用薄膜探針技術也許是解決3D IC測試的好方法。 內容大綱 【內容大綱 ... 版權所有©工業技術研究院 產業經濟 ......看更多