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日期：2024-07-05
奈米光學檢測–高解析度近場光學顯微鏡的應用 2010/7/16 1986年掃描近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscopy; SNOM)的發明是第一次利用近場光學技術來突破光學繞射極限，發展至今已有20餘年的歷史，已應用在資料儲存、奈米微影、奈米時域解析 ......看更多
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