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閎康科技股份有限公司 > FIB線路修補
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日期：2025-04-23
聚焦式離子束顯微鏡(FIB)直到1993年才開始商品上的應用，比較掃描式電子顯微鏡(SEM)和穿透式電子顯微鏡(TEM)的發明，在1950年代以前都被使用在研究開發相關的領域。直到在特定缺陷樣品位置的定點切割提供SEM和TEM的樣品製備，在工業上的應用才被大量 ......看更多
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