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二、內部校正步驟
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日期:2024-08-28
目的 提供環境檢驗室於執行電子天平零點檢查、刻度校正及重複性校正時之參考依循。適用範圍 凡環境檢驗室所使用會影響檢測數據品質之電子天平的內部校正皆適用。內部校正週期與校正標準件來源...看更多