高解析掃描穿透式電子顯微鏡在後段金屬連線的應用 - 國家奈 ...

高解析掃描穿透式電子顯微鏡在後段金屬連線的應用 - 國家奈 ...

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日期:2024-09-27
18. 第. 九. 卷. 第. 四. 期. 奈. 米. 通. 訊. 摘要. 本文利用結合高解析能損儀之掃描穿透. 式電子顯微鏡,進行奈米元件後段製程上的. 分析。經研究發現利用高能量分辨率 ......看更多