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三維光學輪廓儀 | 致茂電子 Chroma ATE Inc.
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日期：2024-07-18
Chroma 7503三維光學輪廓儀乃利用掃描白光干涉技術所發展之次奈米三維光學輪廓量測儀，透過精密的掃描系統以及創新演算法進行微奈米結構物表面輪廓的量測與分析。並可依據需求搭配彩色或單色相機進行2D量測，使系統亦具備工具顯微鏡量測功能 ......看更多
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