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AFM-原子力顯微鏡基本原理
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日期：2024-07-15
第 2 章 原子力顯微鏡基本原理 (Atomic Force Microscpoic ： AFM) AFM 簡介 奈米技術 (Nanotechnology) 是指在奈米尺度 (1nm 到 10nm 之間) 上研究物質 (包括原子及分子的操縱) 的特性和相互作用，目標是利用原子、分子及物質在奈米尺度上所表現出來的物理 ......看更多
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