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![半導體測試簡介](https://www.iarticlesnet.com/pub/img/site/s_45.jpeg)
半導體測試簡介
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日期:2024-08-29
半導體IC測試基本名詞介紹. • Probe Card:針測板. • Socket:IC測試時承載之基座. •
Bin:IC分類之稱呼. • Change Kit:變異製 ......看更多