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KETT膜厚計
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日期:2024-07-07
日本KETT 掌上型膜厚計 LZ-990 測量方式 電磁/渦電流兩用式 測量對象 磁性金屬上非磁性被膜及非磁性金屬上絕緣被膜 測量範圍 0~2,000μm或0~80.0mils 測量單位 ......看更多