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SILICON Probe Card Lift Time 实验计画201最新整理3 - 豆丁网
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日期：2024-09-07
TOHO Silicon Probe Card量產實驗計畫 關於日本TOHO(東邦)Silicon Probe Card的實驗，先前Novatek已經做過一 次，但是失敗了。原因為probe card扎到異物導致探針永久損壞。為了真正了解 此種Probe Card的耐用情形，TOHO再次提供一片Probe Card供實驗用途。...看更多
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