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CTIMES- 積體化探針卡技術介紹 :Probe card,測試系統與研發工具
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日期：2024-09-12
Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本影響相當大的重要製程；此探針卡可使成品的良率由原來的70 ......看更多
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