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穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscopy：TEM）
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日期：2024-11-15
2009年9月9日 ... 在這些新的研究工具當中，穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy；
TEM )可提供材料內部的形態、晶體原子結構…由於TEM具備高解 ......看更多
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