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日期:2024-07-26
材料分析技術簡介: 內容包含 OM / SEM / FIB / TEM / SIMS / EDX / Auger 等相關材料分析技術介紹。 TEM樣品製備技術: 內容包含 Si/TFT/III-V’s 族試片製備, P-V TEM 試片製備, 實作。 TEM成像及操作原理: 內容包含 機台介紹及保養, 基本原理介紹, TEM ......看更多