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晶體結構與X光繞射分析 - Index of
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日期：2024-07-11
晶體結構與X光繞射分析 ... 基於我們利用波繞射方法來探測晶體結構﹐所得的結果乃是. 波繞射後的表態﹐因此若 .... 光是相對稱的，因此X光對材料的穿透深度與Sin φ/μ 成正比。其中φ....看更多
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